Вернуться к списку оборудования

Система быстрой смены образцов для сканирующего электронного микроскопа (1 шт.)

Входит в состав Оборудование для электронно-оптических исследований материалов
Краткое название: SUPRA 40
Тип: Микроскопы
Подразделение: Физический факультет
Начало эксплуатации: 14 декабря 2011
Идентификатор: 10358792
Технические характеристики: 1. Максимальный диаметр исследуемых образцов: 80 мм. 2. Максимальная высота исследуемых образцов: 30 мм. 3. Окно обзора в шлюзовой камере для контроля процессов загрузки и выгрузки - наличие. 4. Подсветка камеры сканирующего электронного микроскопа и шлюзовой камеры во время операций – наличие. 5. Время откачки камеры шлюзового устройства: 1 минута. 6. Заслонка камера микроскопа/шлюзовая камера с блокировкой по уровню вакуума в шлюзовой камере – наличие. 7. Штанга подачи образца съемная – наличие. 8. Наличие возможности управления с помощью встроенной кнопочной панели – наличие. 9. Наличие возможности управления системой с помощью программного интерфейса управления сканирующим электронным микроскопом Supra 40 производства Carl Zeiss - наличие. 10. Полная механическая и программная совместимость с принадлежащим Заказчику сканирующим электронным микроскопом Supra 40 производства Carl Zeiss - наличие. 11. Система встраивается в существующую вакуумную систему сканирующего электронного микроскопа Supra 40 производства Carl Zeiss - наличие.
Расписание:

Понедельник-пятница с 10:30 до 13:00, с 14:00 до 17:00.
Адрес:

119991, Москва Ленинские горы, д. 1, строение 2, лаборатория криоэлектроники, комната 1-63б.
Список ответственных за данное оборудование: Список зарегистрированных ответственных за оборудование комплекса: