| Результаты этапа: Целью данной работы были оптимизация методов пробоподготовки биологических образцов для корреляционного изучения с применением традиционных методов микроскопии и микроскопа, работающего в диапазоне экстремального ультрафиолета (ЭУФ). Выполненная НИР включает в себя: (1) приготовление образцов тканей животных и растений преимущественно ячеистого строения гистологическими методами с обезвоживанием для реализации на них, в том числе, ЭУФ-Z-томографии, (2) приготовление препаратов культивируемых in vitro клеток с повышением контраста методом специфического осаждения металла, (3) приготовление препаратов с применением методик пробоподготовки для просвечивающей электронной микроскопии для анализа проникающей способности ЭУФ на биологических материалах, (4) исследование полученных препаратов для сопоставления производительности ЭУФ-микроскопа с традиционными приборами, отработки правил интерпретации ЭУФ-изображений и анализа воздействия ЭУФ-облучения на препараты, (5) теоретическую поддержку проекта – написание обзорной работы о современных применениях микроскопов мягкого рентгеновского диапазона в биологических исследованиях, (6) разработку прототипа установки для процедуры криозамещения из комплектующих отечественного производства и попытку ее изготовления.
Нами были проведены следующие работы:
1. Приготовлены препараты различных типов с учетом особенностей работы ЭУФ-микроскопа.
2. Проведены корреляционные исследования с применением световой, ЭУФ, просвечивающий и сканирующей ЭМ.
3. Исследовано современное состояния микроскопии мягкого рентгеновского диапазона и степень ее востребованности в клеточной биологии.
4. Начата разработка и сборка установки для процедуры криозамещения.
Ключевые результаты и выводы
1. Нанесение слоя аморфного углерода не повышает прочностные характеристики пленок из поливинил-формальдегида до величин, позволяющих им выдержать облучение от ЭУФ-источника без применения защитного фильтра.
2. Показана возможность проведения корреляционных исследований с применением ЭУФ и СЭМ для толстых образцов и ЭУФ и ПЭМ для образцов толщиной <500 нм.
3. Корреляция ЭУФ- и СЭМ-изображений показала, что ЭУФ-контраст не зависит от толщины слоя органической материи на величинах более 500 нм – она становится полностью непрозрачной.
4. Показано повышение ЭУФ-контраста полутонких срезов после предоблучения электронным лучом в ПЭМ.
5. Написана и принята в печать обзорная работа.
6. Проведены необходимые предпроектные изыскания, составлены эскизные чертежи и начато изготовление прототипа установки для криозамещения из имеющихся компонентов и материалов.
|
