![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Цель работы – исследовать распределение внутренних электрических полей в активной области и электрооптические свойства светодиодных гетероструктур на основе InGaN/GaN в зависимости от длины волны свечения и числа квантовых ям методами модуляционной спектроскопии.Для достижения этой цели были поставлены следующие задачи: 1. Исследование динамики фотовозбужденных носителей при регистрации спектров фотоотражения дельта-легированных структур на основе соединений GaAs. 2. Исследование интерференционных эффектов в спектрах электроотражения множественных квантовых ямах GaN/InGaN гексагональной сингонии. 3. Исследование методами модуляционной спектроскопии слоев GaAs, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии при низкой температуре (LT-GaAs).
The development of InGaN/GaN quantum well (QW) heterostructures technology is impossible without detailed study of the photoexcitation and current flowing along the growth direction of the structure. Such investigations are important for both GaN-based detectors and light-emitting diodes (LED) operating in the near UV, blue, and green ranges of the optical spectrum. InGaN/GaN QWs in the LED’s p-n junction can be used as a model to study the absorption characteristics of semiconductors within the band theory, for example, photodiodes3 or solar cells.
Методами модуляционной спектроскопии ЭО, ЭП и ФТ при комнатной температуре будут исследованы внутренние электрические поля активной области СД гетероструктур с квантовыми ямами на основе InGaN/GaN, а также эффекты, связанные с интерференцией и поглощением света в активной области. Будет разработана методика расчёта напряжённости электрического поля в КЯ InGaN/GaN в зависимости от смещения p-n–перехода UDC, основанная на решении уравнения Шрёдингера для напряжённой КЯ конечной глубины.
Использованные модуляционные методики показали свою эффективность в качестве инструментов для экспериментального исследования зонной структуры и электрооптических свойств многослойных полупроводниковых систем на основе соединений InGaN/GaN. Результаты исследования методом ЭО показали, что в СД гетероструктурах с множественными КЯ InGaN/GaN наблюдается неоднородность электрических полей. При этом методом ЭП обнаружено, что с ростом количества квантовых ям в активной области уменьшается напряжённость электрического поля, что приводит к увеличению эффективности свечения светодиодной структуры. Таким образом, полученная информация может способствовать повышению эффективности СД, благодаря уменьшению пьезоэлектрических полей в целом в активной области с ростом количества КЯ или за счёт снижения напряжённостей электрического поля в отдельных, наиболее активных квантовых ямах. Обнаруженный фотореверсивный эффект смены направления фототока из-за смены длины волны возбуждения может быть использован в основе оптоэлектронных приборов, например, оптических триггеров. Полученная связь между модуляционными методиками электропропускания и фототока позволяет использовать более простую в реализации методику фототока для исследования зонной структуры полупроводниковых многослойных кристаллов. Результаты работы были представлены на многочисленных всероссийских и международных конференциях. По тематике работы опубликовано 16 статей.
Методом спектроскопии фотоотражения исследованы межзонные переходы в квантовых ямах на основе соединений GaAs/AlGaAs разной ширины. Показано, что параметр уширения спектральных линий, связанных с переходами в области множественных квантовых ям увеличивается с увеличением ширины ямы с увеличением энергии уровней. Данный характер изменения параметра уширения указывает на переход квантово-размерных электронно-дырочных состояний от двумерного случая к трехмерному. Разработана методика оценивания пространственной неоднородности гетерограниц по значениям параметра уширения модуляционного спектра. Методом спектроскопии электроотражения исследовались интерференционные эффекты в многослойных гетероструктурах на основе соединений AlGaN/GaN/InGaN типа вюрцита – прототипах светоизлучающих диодов синего диапазона. Обнаружено, что линии электроотражения, связанные с межзонными переходами в области множественных квантовых ям, имеют фиксированную разность фазовых параметров в режиме малой модуляции встроенных полей. Наблюдаемое явление объяснено интерференцией в слоях множественных квантовых ям.
госбюджет, раздел 0110 (для тем по госзаданию) |
# | Сроки | Название |
9 | 1 января 2014 г.-31 декабря 2014 г. | Оптическая спектроскопия материалов микро- и оптоэлектроники |
Результаты этапа: Методом спектроскопии фотоотражения исследованы межзонные переходы в квантовых ямах на основе соединений GaAs/AlGaAs разной ширины. Показано, что параметр уширения спектральных линий, связанных с переходами в области множественных квантовых ям увеличивается с увеличением ширины ямы с увеличением энергии уровней. Данный характер изменения параметра уширения указывает на переход квантово-размерных электронно-дырочных состояний от двумерного случая к трехмерному. Разработана методика оценивания пространственной неоднородности гетерограниц по значениям параметра уширения модуляционного спектра. Методом спектроскопии электроотражения исследовались интерференционные эффекты в многослойных гетероструктурах на основе соединений AlGaN/GaN/InGaN типа вюрцита – прототипах светоизлучающих диодов синего диапазона. Обнаружено, что линии электроотражения, связанные с межзонными переходами в области множественных квантовых ям, имеют фиксированную разность фазовых параметров в режиме малой модуляции встроенных полей. Наблюдаемое явление объяснено интерференцией в слоях множественных квантовых ям. | ||
10 | 1 января 2015 г.-31 декабря 2015 г. | Оптическая спектроскопия материалов микро- и оптоэлектроники |
Результаты этапа: В 2015 году продолжались работы по исследованию гетероструктур на основе соединений нитрида галлия, арсенида галлия и их тройных и четвертных растворов. Методом спектроскопии электроотражения впервые исследованы межзонные переходы вблизи фундаментального края поглощения четвертного соединения AlInGaN в составе гетеростурктуры AlInGaN/AlN/GaN. Предложена методика выделения сигнала электроотражения от слоя AlInGaN на фоне более интенсивного сигнала электроотражения от слоя GaN. Показано, что напряженность пьезоэлектрического поля в слоях AlInGaN убывает с увеличением толщины прослойки AlN. Полученная информация имеет важное практическое применение в технологии изготовления транзисторов с высокой подвижностью носителей (HEMT-структуры). Методом спектроскопии фотоотражения исследованы слои GaAs, выращенные методом молекулярно-пучковой эпитаксии на кремниевых подложках при низких температурах роста. Показано, что основным источником электрического поля в слое GaAs является сконцентрированный на гетероинтерфейсе GaAs/Si заряд. Оценена плотность этого заряда. План НИР выполнен. Опубликовано 2 статьи, 6 учебных пособий, сотрудники группы сделали 5 докладов на 3 международных конференциях и 2 Всероссийских конференциях. Соавторами 2 тезисов докладов являлись студенты и аспиранты. | ||
11 | 1 января 2016 г.-31 декабря 2016 г. | Оптическая спектроскопия материалов микро- и оптоэлектроники |
Результаты этапа: Методом спектроскопии электроотражения впервые исследованы серии светодиодных гетероструктур при малых амплитудах модулирующего напряжения, подаваемого на контакты pn перехода. Обнаружено, что в таком режиме регистрации спектров удается разрешить линии, связанные с отдельными квантовыми ямами активной области. Различие в положении этих линий объяснено неоднородностью электрического поля в области pn перехода. Методом спектроскопии фотоотражения исследованы слои GaAs, выращенные методом молекулярно-пучковой эпитаксии на кремниевых подложках при низких температурах роста, а также слои GaAsBi. Показано, что основным источником электрического поля в слое GaAs является сконцентрированный на гетероинтерфейсе GaAs/Si заряд. Оценена плотность этого заряда. Обнаружена модификация зонной структуры GsAs, обусловленная внедрением висмута. Опубликовано 2 статьи, 2 учебных пособия, сотрудники группы сделали 4 доклада на 3 Всероссийских конференциях. Соавторами 1 статьи и 4 тезисов докладов являлись студенты и аспиранты. | ||
12 | 1 января 2017 г.-31 декабря 2017 г. | Оптическая спектроскопия материалов микро- и оптоэлектроники |
Результаты этапа: 1. Продолжены исследованы спектров поглощения, электро и фотоотражения квантовых ям InGaN. 2. Получена информация о фото/термоиндуцированных сдвигах положения фотонной запрещенной зоны в фотонных кристаллах на основе пористого кремния. 3. Ссоздана модель, описывающая сдвиг фотонной запрещенной зоны с учетом тепловых и светоиндуцированных процессов. 4. Методом спектроскопии электроотражения исследованы светодиодные гетероструктуры при малых амплитудах модулирующего напряжения, подаваемого на контакты pn перехода. 5.Методом спектроскопии фотоотражения исследованы слои GaAs, выращенные методом молекулярно-пучковой эпитаксии при низких температурах роста. | ||
13 | 1 января 2018 г.-31 декабря 2018 г. | Оптическая спектроскопия материалов микро- и оптоэлектроники |
Результаты этапа: В 2018 году продолжались работы по исследованию гетероструктур на основе соединений нитрида галлия, арсенида галлия и их тройных и четвертных растворов методами модуляционной спектроскопии. Исследованы светодиодные гетероструктуры на основе InGaN/GaN с различным количеством квантовых ям в активной области методом фототока при комнатной температуре. Методом спектроскопии электроотражения впервые исследованы серии светодиодных гетероструктур с отдельными квантовыми ямами активной области. Методами спектроскопии электроотражения и электролюминесценции при контроле вольтамперных характеристик исследована серия светодиодных гетероструктур ближней УФ части спектрального диапазона. В спектрах электролюминесценции обнаружены особенности обусловленные излучательной рекомбинацией на глубоких акцепторах. Предложена модель, учитывающаяй комбинированную плотность состояний вблизи краев зон. Методом спектроскопии фотоотражения исследованы слои GaAs, выращенные методом молекулярно-пучковой эпитаксии на кремниевых подложках при низких температурах роста. Показано, что основным источником электрического поля в слое GaAs является сконцентрированный на гетероинтерфейсе GaAs/Si заряд. Получена информация о фото/термоиндуцированных сдвигах положения фотонной запрещенной зоны в фотонных кристаллах на основе пористого кремния. Разработана модель, описывающая сдвиг фотонной запрещенной зоны с учетом тепловых и светоиндуцированных процессов в одномерных фотонных кристаллах на основе пористого кремния.. Опубликована 1 статья, сотрудники группы сделали 1 доклад на 1 международной конференции. План работ выполнен. | ||
14 | 1 января 2019 г.-31 декабря 2019 г. | Оптическая спектроскопия материалов микро- и оптоэлектроники |
Результаты этапа: Методами модуляционной спектроскопии исследованы интерференционные эффекты и внутренние электрические поля в активной области светодиодов на основе InGaN/GaN. Наблюдаемая в эксперименте смена фазы интерференции в спектрах электроотражения объясняется электрооптическим эффектом. Это позволило найти соответствующие электрооптические коэффициенты. Продолжены исследования методом фототока образцов с разным количеством квантовых ям. Развит метод определения ширины запрещённой зоны с помощью нормированных спектров фототока, что позволило оценивать размытие гетерограниц и использовать метод фототока для диагностики качества гетерограниц. Впервые обнаружен фотореверсивный эффект, который дает возможность управления направлением фототока с помощью изменения длины волны излучения, что имеет прикладное значение. | ||
15 | 1 января 2020 г.-31 декабря 2020 г. | Оптическая спектроскопия материалов микро- и оптоэлектроники |
Результаты этапа: Продолжены исследования методами модуляционной спектроскопии и методом фототока внутренних электрических полей в активной области светодиодов на основе полупроводниковых гетероструктур InGaN/GaN с разным количеством квантовых ям. Развит метод определения ширины запрещённой зоны с помощью нормированных спектров фототока, что позволило оценивать размытие гетерограниц и использовать метод фототока для диагностики качества гетерограниц. Обнаруженный фотореверсивный эффект дает возможность управления направлением фототока с помощью изменения длины волны излучения, что имеет прикладное значение. Впервые получены спектры фотоотражения в однослойных образцах пористого кремния в области 550-1000 нм. Для описания наблюдаемых спектров используется модель двухлучевой интерференции с учетом коэффициента поглощения Si в этой области. Показано, что изменение показателя преломления n под действием лазерного изучения (532 нм) мощностью 30 мВт и длительности импульса ~ 3 мс достигает значений порядка 10-5 и обусловлено тепловой нелинейностью показателя преломления. |
Для прикрепления результата сначала выберете тип результата (статьи, книги, ...). После чего введите несколько символов в поле поиска прикрепляемого результата, затем выберете один из предложенных и нажмите кнопку "Добавить".