![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
На основе метода нейтронных стоячих волн в рефлектометрии поляризованных нейтронов получение ядерных и магнитных профилей плотности длины рассеяния в слоистых структурах с точностью не хуже 1 нм. Выявление механизма формирования волн спиновой плотности в тонких пленках типа Cr/V и определение критической толщины Cr, при которой возможно формирование волн спиновой плотности. Определение магнитной структуры Cr при контакте с ферро- или пара- магнитной средой. Определение магнитной и ядерной структуры в многослойной системах типа Fe/V по глубине в зависимости от термодинамических параметров (температура, внешнее магнитное поле) и толщины слоев, определение условий возникновения магнитных кластеров. Проведение классической магнитной магнитометрии на тонких слоистых структурах. Проведение тестирования ряда магнитных жидкостей посредством классической магнетометрии. Проведение исследований жидких наноуглеродных дисперсий с помощью Рамановской спектроскопии. Выяснение механизмов стабилизации в системах: водные фуллереновые дисперсии, водные дисперсии шунгитов, дисперсии детонационных наноалмазов в различных полярных растворителях.
В ходе НИР с использованием Рамановской спектроскопии исследовались различные водные дисперсии наноуглеродных материалов. Целью работы было детектирование взаимодействия воды с углеродными наночастицами для выяснения механизмов стабилизации в системах: водные фуллереновые дисперсии, водные дисперсии шунгитов, дисперсии детонационных наноалмазов в различных полярных растворителях. Данные эксперименты проводились дополнительно к исследованиям дисперсий методом малоуглового рассеяния нейтронов. В ходе НИР проведена классическая магнитометрия ряда магнитных жидкостей. Определены характерные параметры функции распределения по размерам магнитных частиц. Проведено сравнение с данными малоуглового рассеяния нейтронов на тех же системах. В ходе НИР с помощью рефлектометрии поляризованных нейтронов были проведены исследования наноструктур, составленных из относительно толстого слоя сверхпроводника (~10 нм) и периодической структуры из относительно тонких (~1 нм) ферромагнитных и сверхпроводящих слоёв (типы Cr/V и Fe/V). В ходе НИР проведена магнитометрия тонких мультислойных магнитных пленок типа ферромагнетик-полупроводник. Задачей исследования ставилось определение поля насыщения, а также изучение влияния толщины слоя полупроводника на намагниченность пленки.
ФЦП: Федеральная целевая программа, «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития науки и техники» на 2002-2006 годы по теме: ИН-12.1/013 «Диагностика структуры и магнитных свойств кластеров в системах с развитой поверхностью» (VIII очередь) |
# | Сроки | Название |
1 | 28 октября 2005 г.-31 декабря 2005 г. | Комплексный анализ тонких магнитных пленок и магнитных жидкостей, и рамановская спектроскопия коллоидных растворов углеродных наноматериалов |
Результаты этапа: | ||
2 | 1 января 2006 г.-30 июня 2006 г. | Комплексный анализ тонких магнитных пленок и магнитных жидкостей, и рамановская спектроскопия коллоидных растворов углеродных наноматериалов |
Результаты этапа: | ||
3 | 1 июля 2006 г.-31 октября 2006 г. | Комплексный анализ тонких магнитных пленок и магнитных жидкостей, и рамановская спектроскопия коллоидных растворов углеродных наноматериалов |
Результаты этапа: |
Для прикрепления результата сначала выберете тип результата (статьи, книги, ...). После чего введите несколько символов в поле поиска прикрепляемого результата, затем выберете один из предложенных и нажмите кнопку "Добавить".