Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата
тезисы доклада
Авторы:
Кривенцов В.В.
,
Валеев Р.Г.
,
Бельтюков А.Н.
,
Мухгалин В.В.
,
Романов Э.А.
,
Максимовский Е.А.
,
Якимчук Е.П.
,
Новгородов Б.Н.
,
Мезенцев Н.А.
Сборник:
Спектрометрические методы анализа
Тезисы
Год издания:
2013
Первая страница:
50
Последняя страница:
50
Добавил в систему:
Бельтюков Артемий Николаевич