Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
XAFS AND XPS STUDY OF GERMANIUM AND GALLIUM ARSENIC NANOSTRUCTURES LOCATED IN POROUS ALUMINA MATRICES
тезисы доклада
Авторы:
Kriventsov V.V.
,
Valeev R.G.
,
Vetoshkin V.M.
,
Yakimchuk E.P.
,
Novgorodov B.N.
,
Maksimovsky E.A.
,
Khorev A.G.
,
Mezentsev N.A.
Сборник:
Фундаментальные и прикладные аспекты новых высокоэффективных материалов
Тезисы
Год издания:
2014
Первая страница:
94
Последняя страница:
94
Добавил в систему:
Ветошкин Владимир Михайлович