Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
In situ XPS study of interaction of thin IVA, VA metal films with native oxide on Si substrates
статья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 6 декабря 2018 г.
Авторы:
Sushkova N.M.
,
Akimov A.G.
Сборник:
MRS Symposium Proceedings, Volume 564, Advanced Interconnects and Contacts
Том:
564
Год издания:
1999
Издательство:
MATERIALS RESEARCH SOC
Местоположение издательства:
506 KEYSTONE DR, WARRENDALE, USA, PA,15086
Первая страница:
223
Последняя страница:
228
Добавил в систему:
Сушкова Наталья Михайловна