|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Исследование микровключений в профилированных кристаллах сапфирастатья
- Авторы: Бородин А.В., Бородин В.А., Искоростинская В.Е., Стериополо Т.А., Ходос И.И., Некрасов А.Н.
- Журнал: Материалы Электронной техники
- Номер: 2
- Год издания: 2010
- Первая страница: 29
- Последняя страница: 33
- Добавил в систему: Некрасов Алексей Николаевич