Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Structural Properties and Characterization Grain- Domain Structure of the GaN Thin film Grown on SiC and Al2O3 substrates
тезисы доклада
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 22 февраля 2016 г.
Авторы:
Boiko M.E.
,
Mokhov E.N.
Сборник:
MRS 1997 Fall Meeting Dec. 1-5, 1997
Серия:
D10.2 Abstracts
Тезисы
Год издания:
1997
Место издания:
Boston, MA
Первая страница:
118
Добавил в систему:
Бойко Михаил Евгеньевич