|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Structural Properties and Characterization Grain- Domain Structure of the GaN Thin film Grown on SiC and Al2O3 substratesтезисы доклада
- Авторы: Boiko M.E., Mokhov E.N.
- Сборник: MRS 1997 Fall Meeting Dec. 1-5, 1997
- Серия: D10.2 Abstracts
- Тезисы
- Год издания: 1997
- Место издания: Boston, MA
- Первая страница: 118
- Добавил в систему: Бойко Михаил Евгеньевич