|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Структурная диагностика синтетических монокристаллов алмаза с высоким коэффициентом отражения рентгеновского излучениястатья
- Авторы: Поляков С.Н., Денисов В.Н., Кузьмин Н.В., Кузнецов М.С., Мартюшов С.Ю., Носухин С.А., Терентьев С.А., Бланк В.Д.
- Сборник: Химия и химическая технология
- Серия: Известия высших учебных заведений
- Том: 54
- Год издания: 2011
- Место издания: Издание Ивановского Государственного Химико-технологического Университета Иваново
- Первая страница: 4
- Последняя страница: 9
- Аннотация: Комплексный анализ высокосовершенных синтетических кристаллов алмаза, основанный на данных рентгеновской топографии, дифрактометрии высокого разрешения и оптической спектроскопии, позволил определить структурные параметры, обеспечивающие рекордное значение коэффициента брэгговского отражения для жесткого рентгеновского монохроматического излучения
- Добавил в систему: Поляков Сергей Николаевич