|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
emi-empirical calculations for the ranges of fast ions in Siliconстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 30 августа 2018 г.
- Авторы: Belkova Yu A., Teplova Ya A.
- Журнал: Radiation Effects and Defects in Solids
- Том: 173
- Номер: 3-4
- Год издания: 2018
- Издательство: Taylor & Francis
- Местоположение издательства: United Kingdom
- Первая страница: 175
- Последняя страница: 183
- DOI: 10.1080/10420150.2018.1462365
- Добавил в систему: Теплова Яна Анатольевна
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Belkova_Teplova_RE_2018.pdf | 1,1 МБ | 20 мая 2024 [teplova1929] |