Зондирование динамических зарядовых состояний с помощью одноэлектронных туннельных транзисторовстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 9 октября 2015 г.
Аннотация:В работе изучаются свойства одноэлектронного транзистора в режиме электрометра, позволяющего непрерывной мониторинг зарядов в узлах сложных микро- и нано-структур. Дается обзор последних экспериментов выполненных совместно Лабораторией криоэлектроники МГУ и Федеральным физико-техническим центром (Брауншвайг, Германия).