Macroscopic size effects in second harmonic generation from Si(111) coated by thin oxide films: The role of optical casimir nonlocality

Aktsipetrov, O.A.; Fedyanin, A.A.; Mishina, E.D.; Nikulin, A.A.; Rubtsov, A.N.; vanHasselt, C.W.; Devillers, M.A.; Rasing, T.

Информация о цитировании статьи получена из Scopus, Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 18 июля 2013 г.

Авторы: Aktsipetrov O.A., Fedyanin A.A., Mishina E.D., Nikulin A.A., Rubtsov A.N., vanHasselt C.W., Devillers M.A.C, Rasing T.
Журнал: Physical Review Letters
Том: 78
Номер: 1
Год издания: 1997
Издательство: American Physical Society
Местоположение издательства: United States
Первая страница: 46
Последняя страница: 49
DOI: 10.1103/PhysRevLett.78.46
Аннотация: Optical second harmonic generation from Si(111)-SiO2 interface shows a strong nonmonotonic dependence on the oxide thickness between 1 and 300 nm. The Brewster angle of incidence, pin, p-out combination of polarizations and strong, uniform suppression of this effect by near-index matching fluid exclude trivial multiple reflections and microscopic interface effects. The observation can be interpreted to originate from the optical (Casimir) nonlocality stemming from the thickness-dependent electron-electron interaction via virtual photons of the quantized electromagnetic field.
Добавил в систему: Рубцов Алексей Николаевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ЦЭМИ РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИСТИНА ЦЭМИ РАН

Macroscopic size effects in second harmonic generation from Si(111) coated by thin oxide films: The role of optical casimir nonlocalityстатья

Прикрепленные файлы