|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Применение сканирующей оптической микроскопии ближнего поля для изучения субмикро- и нанообъектов, а также распределения электромагнитного полястатья
- Авторы: Ежов А.А., Магницкий С.А., Музыченко Д.А., Панов В.И.
- Журнал: Наукоемкие технологии
- Том: 6
- Номер: 1
- Год издания: 2005
- Издательство: Издательство "Радиотехника"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 34
- Последняя страница: 40
- Добавил в систему: Музыченко Дмитрий Анатольевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Полный текст публикации в формате PDF | High_Technology_01_034_2005.pdf | 2,2 МБ | 12 ноября 2012 [Muzychenko_DA] |