|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Ultrahigh vacuum scanning tunneling microscopeстатья
- Авторы: Oreshkin A.I., Oreshkin S.I., Savinov S.V., Panov V.I., Vasil'ev S.I., Rudenko A.I., Polonskii B.A., Protopopov O.D.
- Журнал: «Электронная промышленность»,
- Номер: 10
- Год издания: 1993
- Первая страница: 43
- Последняя страница: 44
- Добавил в систему: Орешкин Андрей Иванович