|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
AUGER-ELECTRONIC MICROANALYSIS OF OXIDIZED LEAD SULFIDE POLYCRYSTALLINE LAYERстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 мая 2015 г.
- Авторы: GASKOV AM, GOLDENVEISER AA, SOKOLOV IA, ZLOMANOV VP, NOVOSELOVA AV
- Журнал: Doklady Akademii nauk SSSR
- Том: 269
- Номер: 3
- Год издания: 1983
- Издательство: Akademiia Nauk Sssr
- Местоположение издательства: Russian Federation
- Первая страница: 607
- Последняя страница: 609
- Добавил в систему: Зломанов Владимир Павлович