|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Разработка микромонитора для испытаний микроэлектроники на стойкость при воздействии тяжёлых заряженных частицстатья
- Авторы: Анохин М.В., Галкин В.И., Давыдов В.А., Дубов А.Е., Добриян М.Б., Королёв А.Г., Санжак В.Л., Чабанов В.М.
- Сборник: Тезисы 15 Всероссийской научно-технической конференции по радиационной стойкости электронных систем «Стойкость-2012». Научно-технический сборник. 2012
- Серия: 1
- Год издания: 2012
- Место издания: ФГУП НИИП г. Лыткарино
- Первая страница: 207
- Последняя страница: 208
- Добавил в систему: Анохин Михаил Всеволодович