|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
MODELING OF BRAGG INTENSITY PROFILES .2. ALLOWANCE FOR THERMAL DIFFUSE-SCATTERINGстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus,
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 20 января 2016 г.
- Авторы: LAKTIONOV AV, FETISOV GV, ASLANOV LA, CHULICHKOV AI, CHULICHKOVA NM
- Журнал: Journal of Applied Crystallography
- Том: 24
- Год издания: 1991
- Издательство: Blackwell Publishing Inc.
- Местоположение издательства: United Kingdom
- Первая страница: 293
- Последняя страница: 297
- DOI: 10.1107/S0021889891001590
- Аннотация: A method for empirical determination of TDS (thermal diffuse scattering) corrections in X-ray structure analysis is developed. Thermal diffuse scattering is introduced into the model suggested earlier [Chulichkov et al. (1987). Sov. Phys. Crystallogr. 32, 649-653; Laktionov, Chulichkov, Chulichkova, Fetisov, Pyt'ev & Aslanov (1989). J. Appl. Cryst. 22, 315-320] for measuring the Bragg reflection intensity profile with a four-circle diffractometer. The improved model in combination with the mathematical reduction method enables the extraction of TDS and background intensity values from the experimental intensity profile. Thus the problem of TDS correction in crystal structure refinement is solved without knowledge of the sample's elasticity constants. The comparison of TDS corrections obtained by this method with those calculated from elasticity constants for hexamethylenetetramine, C6H2N4, and sulfur, S8, crystals shows good agreement.
- Добавил в систему: Фетисов Геннадий Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | gl0175.pdf | 466,4 КБ | 5 февраля 2015 [gv_fetisov] |