|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Контроль дисперсности порошков нанокристаллического кремния с помощью рентгеновского дифракционного анализастатья
- Авторы: Фетисов Г.В., Ищенко A.A., Тафеенко В.А., Der_Jang Liaw
- Журнал: Нанотехника
- Номер: 4
- Год издания: 2010
- Первая страница: 35
- Последняя страница: 44
- Аннотация: Производство нанокристаллического кремния (nc-Si) и эффективное практическое применение его уникальных электронно-оптических свойств требуют тщательного гранулометрического контроля, дающего функцию плотности распределения частиц по размерам (ФПРР). Как правило, имеющиеся методы определения ФПРР нанопорошков требуют специальной пробоподготовки, влияющей на результат измерений. В настоящей работе для исследования дисперсности nc-Si без манипуляций над пробой и определения ФПРР используется рентгеновская дифрактометрия nc-Si и метод моделирования полного профиля дифрактограммы с учетом физических механизмов рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, реализованный в компьютерной программе PM2K. Данным методом исследовались три партии образцов nc-Si различной дисперсности, синтезированные плазмохимическим методом. Полученные ФПРР согласуются с гистограммами размеров nc-Si, построенными по электронномикроскопическим снимкам, и адекватно описывают дисперсность порошков.
- Добавил в систему: Фетисов Геннадий Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Fetisov_et_all_Nanotechnics_2010_ncSi_size.pdf | 629,9 КБ | 12 декабря 2014 [gv_fetisov] |