Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Методика оценки интенсивности одиночных сбоев интегральных микросхем при воздействии тяжелых ионов космического пространства Н.В.Кузнецов, Р.А.Ныммик, Г.Г.Соловьев, В.В.Хаустов, В.А.Щербаков
статья
Авторы:
Кузнецов Н.В.
,
Ныммик Р.А.
,
Соловьев Г.Г.
, Хаустов В.В., Щербаков В.А.,
Эмишян М.С.
Сборник:
Препринт НИИЯФ МГУ No 96-12/419
Год издания:
1996
Место издания:
издательство НИИЯФ МГУ Москва
Первая страница:
1
Последняя страница:
23
Аннотация:
В работе систематизированы сведения, необходимые для оценки и прогнозирования одиночных сбоев цифровых интегральных микросхем при вохдействий тяжелых ионов космических лучей.
Добавил в систему:
Ныммик Рихо Альфредович