Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Рентгеновская резонансная рефлектометрия с использованием поляризованного СИ как метод исследования магнитных мультислоев
статья
Авторы:
Андреева М.А.
,
Смехова А.Г.
,
Рогалев А.
Сборник:
Сборник материалов и программа Второй международной научной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методы для нанотехнологии)»
Год издания:
2008
Место издания:
г. Великий Новгород
Первая страница:
62
Последняя страница:
65
Добавил в систему:
Андреева Марина Алексеевна