|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Optical characterization of thin films using high-accuracy oblique transmittance measurementsтезисы доклада
- Авторы: Nevas S., Manoocheri F., Ikonen E., Tikhonravov A.V., Kokarev M.A., Trubetskov M.K.
- Сборник: Abstracts of Northern Optics 2003
- Тезисы
- Год издания: 2003
- Место издания: Espoo, Finland
- Первая страница: 60
- Добавил в систему: Тихонравов Александр Владимирович