|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
СИНТЕЗ ТЕСТОВ ДЛЯ ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ НА ВЫСОКОМ И НИЗКОМ УРОВНЯХ АБСТРАКЦИИстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 ноября 2019 г.
- Авторы: Лапутенко А.В., Винарский Е.М.
- Журнал: Вестник Томского государственного университета. Управление. Вычислительная техника и информатика
- Номер: 47
- Год издания: 2019
- Первая страница: 110
- Последняя страница: 117
- DOI: 10.17223/19988605/47/13
- Аннотация: Исследуется задача построения тестов с гарантированной полнотой для последовательностных цифровых систем. Рассматриваются тесты, нацеленные как на обнаружение в логических схемах низкоуровневых неисправностей различных типов, так и на более высокий функциональный уровень. Для построения тестов по модели логической схемы используется мутационный подход. При построении тестов с гарантированной полнотой для автоматной модели, т.е. модели более высокого уровня, тесты, построенные по логической схеме, дополняются последовательностями, которые позволяют покрыть ранее не покрытые переходы соответствующего конечного автомата. Расширенные тесты являются полными как относительно мутантов логической схемы, так и относительно автоматных ошибок. Приводятся результаты компьютерных экспериментов с описаниями последовательностных логических схем и соответствующими им конечными автоматами, подтверждающие эффективность предложенного подхода.
- Добавил в систему: Винарский Евгений Максимович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | vestnik_tsu_vinarskii.pdf | 573,6 КБ | 22 октября 2019 [vinevg1996] |