|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Improving the reliability of identification of single crystals structure defectsтезисы доклада
- Авторы: Tkal V.A., Bushuev V.A.
- Сборник: Book of abstracts of 6th International Conference on “Electron, Positron, Neutron and X-ray Scattering under External Influences” (21-26 October 2019, Yerevan – Meghri, Armenia), 2019, P. 58,
- Тезисы
- Год издания: 2019
- Место издания: Institute of Applied Problems of Physics, NAS Republic of Armenia Yerevan
- Первая страница: 58
- Последняя страница: 58
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич