|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Application of composite contrast SEM-Mode to the study of defects in InGaN/AlGaN/GaN heterostructuresстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 мая 2015 г.
- Авторы: Obyden S.K., Saparin G.V., Ivannikov P.V., Yunovich A.E., Leroux M., Dalmasso S., Beaumont G.
- Журнал: Scanning
- Том: 22
- Номер: 2
- Год издания: 2000
- Издательство: FAMS Inc.
- Местоположение издательства: United States
- Первая страница: 126
- Последняя страница: 127
- DOI: 10.1002/sca.4950220201
- Добавил в систему: Юнович Александр Эммануилович