|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
X-ray study of SiC surface and bonding interface in compositions SiC/Siтезисы доклада
- Авторы: Argunova T.S., Grekhov I.V., Kostina L.S., Tur'yanskii A.G., Pirshin L.V., Prudnikov I.R., Kim E.D., Kim S.C., Kim N.K.
- Сборник: Abstr. 5th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Topography “XTOP-2000”
- Тезисы
- Год издания: 2000
- Место издания: Ustron-Jaszowiec, Poland
- Первая страница: P2. 2
- Последняя страница: P2. 2
- Добавил в систему: Прудников Илья Рудольфович