X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievementsстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 19 августа 2020 г.
Аннотация:Рассматривается развитие рентгеновской дифрактометрии для структурных исследований, как с использованием традиционных непрерывно излучающих генераторов рентгеновских лучей, так и новейших источников ультракоротких и ультраярких рентгеновских импульсов. Прежде всего, обсуждаются новые технические средства, повышающие чувствительность, точность и оперативность рентгеновских дифракционных экспериментов: новые и перспективные источники рентгеновских лучей, отражательная коллимирующая и фокусирующая рентгеновская оптика, быстрые малошумящие и радиационно-стойкие координатные рентгеновские детекторы, а также рентгеновские дифрактометры нового поколения, построенные на основе этих элементов. Наибольшее внимание уделяется современным техническим средствам, обеспечивающим проведение в университетских и производственных лабораториях рентгеновских дифракционных исследований материалов, которые ранее считались возможными только на синхротронном излучении в международных центрах коллективного пользования. DOI: URL: https://ufn.ru/en/articles/2020/1/b/