|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Измерение пространственных характеристик упорядоченных поверхностных наноструктур на сканирующем туннельном микроскопестатья
- Авторы: Лапшин Р.В., Рябоконь В.Н., Денисов А.В.
- Сборник: Труды второй международной научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика”
- Том: 2
- Год издания: 1997
- Место издания: Зеленоград
- Первая страница: 349
- Последняя страница: 357
- Добавил в систему: Лапшин Ростислав Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | R._V._Lapshin_et_al._Measurement_of_spatial_characteristics… | 4,8 МБ | 1 августа 2020 [Lapshin] |