|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
X-Ray Study of Microstructure and Grain Boundary Statistics in Nanocrystaline Materialsтезисы доклада
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
- Авторы: Zhilyaev A.P., Alexandrov I.V., Valiev R.Z.
- Сборник: Nanostructured Films and Coatings
- Тезисы
- Год издания: 2000
- Место издания: Kluwer Publ
- Первая страница: 215
- Добавил в систему: Валиев Руслан Зуфарович