Аннотация:Методами туннельной, инфракрасной, рентгеновской фотоэлектронной, оже-спектроскопии,спектроскопии комбинационного рассеяния, рентгеноструктурного анализа, просвечивающейэлектронной микроскопии исследованы структура и проводящие свойства углеродных пленок,синтезированных на различных металлических подложках (Al, Mo, Re, Ta, Ag, Cu и Pt). Изученовлияние материала подложки на свойства углеродной пленки. На основе неэмпирических кванто-во-механических расчетов проведен анализ экспериментальных колебательных спектров. Сделанвывод о зависимости работы выхода материала подложки от длины цепочечного фрагмента.