|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Raman Spectroscopy-Based Quality Control of “Silicon-On-Insulator” Nanowire Chips for the Detection of Brain Cancer-Associated MicroRNA in Plasmaстатья
Статья опубликована в высокорейтинговом журнале
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или ScopusДата последнего поиска статьи во внешних источниках: 8 сентября 2021 г.
- Авторы: Kozlov Andrey F., Shumov Ivan D., Larionov Dmitry I., Tikhonenko Fedor V., Kapustina Svetlana I., Ziborov Vadim S., Petrov Oleg F., Gadzhieva Olga A., Bashiryan Boris A., Shimansky Vadim N., Archakov Alexander I., Ivanov Yuri D.
- Журнал: Sensors
- Том: 21
- Номер: 1333
- Год издания: 2021
- Издательство: MDPI
- Местоположение издательства: Basel, Switzerland
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 13
- Добавил в систему: Шиманский Вадим Николаевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | sensors-21-01333-v2_PcweILl.pdf | 439,2 КБ | 24 февраля 2021 [Shimava_nsi] |