|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Young’s modulus of phyllosilicate nanoscrolls measured by the AFM and by the in-situ TEM indentationстатья Исследовательская статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 29 апреля 2021 г.
- Авторы: Khalisov M.M., Lebedev V.A., Poluboyarinov A.S., Garshev A.V., Khrapova E.K., Krasilin A.A., Ankudinov A.V.
- Журнал: Наносистемы: физика, химия, математика
- Том: 12
- Номер: 1
- Год издания: 2021
- Издательство: Университет ИТМО
- Местоположение издательства: Санкт-Петербург
- Первая страница: 118
- Последняя страница: 127
- DOI: 10.17586/2220-8054-2021-12-1-118-127
- Аннотация: Ni3Si2O5(OH)4 phyllosilicate nanoscrolls were investigated by two techniques: the bending-based test method of AFM and the indentation method with visual control in STEM. In the first case, the average measured Young’s modulus, about 200 GPa, turned out to be significantly higher than in the second one, 40 GPa. The reasons for this discrepancy are analyzed. © 2021, ITMO University. All rights reserved.
- Добавил в систему: Гаршев Алексей Викторович