Устойчивость паттерных образований в картинах дифракции света на структурах с симметрией самоподобия

Авторы: Короленко П.В., Рыжиков С.Б., Рыжикова Ю.В.
Сборник: Сборник трудов XIV Всероссийской школы- семинара «Физика и применение микроволн»
Серия: Секция 6. Когерентная и нелинейная оптика
Год издания: 2013
Место издания: М.:МГУ
Первая страница: 38
Последняя страница: 40
Аннотация: Предложен и обоснован метод определения структурных особенностей апериодических дифракционных решеток на основе анализа формы локальных паттернов в их скейлинговых характеристиках; выполнена оценка устойчивости паттернов к изменению условий освещения решеток и присутствующим в них дефектам.
Добавил в систему: Рыжикова Юлия Владимировна

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ЦЭМИ РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА