Аннотация:Проводится сравнительный анализ трех принципиально различных алгоритмов решения обратных за- дач контроля толщин слоев оптических покрытий на основе данных монохроматических измерений коэф- фициентов отражения/пропускания покрытий в процессе их напыления. Развитый ранее геометрический подход к исследованию корреляции ошибок в толщинах слоев напыляемых покрытий распространен на случай монохроматических измерений. Для оценки наличия эффекта самокомпенсации ошибок введен новый параметр, названный фактором самокомпенсации. Показана его роль при оценке перспектив ис- пользования различных алгоритмов для контроля напыления оптических покрытий.