|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
X-Ray Reflectometry and GISAXS study of the surface nanolayers on colloidal silicaтезисы доклада
- Авторы: Roshchin B.S., Tikhonov A.M., Vokov Yu O., Asadchikov V.E., Nuzhdin A.D.
- Сборник: Book of Abstracts 13th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging XTOP-2016 (Brno, Czech Republic, 4th-8th September 2016), Book of abstracts
- Тезисы
- Год издания: 2016
- Первая страница: 288
- Последняя страница: 288
- Добавил в систему: Асадчиков Виктор Евгеньевич