|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
АНИЗОТРОПИЯ ТОНКИХ ПОРИСТЫХ ПЛЕНОК: РЕЗУЛЬТАТЫ СУПЕРКОМПЬЮТЕРНОГО МОДЕЛИРОВАНИЯстатья
- Авторы: Григорьев Ф.В., Сулимов В.Б., Тихонравов А.В.
- Сборник: 17 Российский симпозиум Фундаментальные основы атомистического многомасштабного моделирования
- Год издания: 2021
- Издательство: МИИ
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 6
- Последняя страница: 6
- Аннотация: Предложен комбинированный метод моделирования оптической анизотропии тонких пористых пленок. Атомистический метод, основанный на классической молекулярной динамике, разработанный ранее в [1,2], используется для моделирования высокоэнергетического осаждения тонких пленок диоксида кремния. Усредненные параметры формы пор, определяющие анизотропные свойства пористых тонких пленок, рассчитываются с использованием оригинальной модели, основанной на методе Монте-Карло. Модель обладает высокой численной эффективностью и может быть применена к любым пористым атомистическим кластерам, полученным с помощью методов молекулярной динамики, Монте-Карло или баллистического подхода. Число атомов в кластере может достигать десятков и сотен миллионов атомов. Величины диагональных компонент тензора показателя преломления рассчитываются в рамках континуального приближения анизотропной эффективной среды [3]. Разработанный комбинированный метод протестирован путем сравнения численных и аналитических результатов для модельных задач. Метод применен к тонким пленкам диоксида кремния и диоксида титана [4]. Полученные результаты согласуются с экспериментальными данными.Работа выполнена при финансовой поддержке РНФ, грант 19-11-00053.
- Добавил в систему: Григорьев Федор Васильевич