|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Рентгеновская рефлектометрия, дифрактометрия и электронная спектроскопия многослойных структур с нанокристаллами кремниятезисы доклада
- Авторы: Жигунов Д.М., Каменских И.А., Якунин С.Н., Лебедев А.М., Чумаков Р.Г., Камеко Н.О., Кашкаров П.К.
- Сборник: Сборник тезисов Первого российского кристаллографического конгресса, Москва, ВДНХ, 21-26 ноября 2016 г
- Тезисы
- Год издания: 2016
- Место издания: ООО "НП-Принт" СПб
- Первая страница: 205
- Последняя страница: 205
- Добавил в систему: Жигунов Денис Михайлович