|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Charge Transport Mechanism and Trap Origin in Methyl-Terminated Organosilicate Glass Low-κ Dielectricsстатья
- Авторы: Perevalov T.V., Gismatulin A.A., Dolbak A.E., Gritsenko V.A., Trofimova E.S., Pustovarov V.A., Seregin D.S., Vorotilov K.A., Baklanov M.R.
- Журнал: Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science
- Том: 218
- Номер: 4
- Год издания: 2021
- Издательство: Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co.
- Местоположение издательства: Germany
- DOI: 10.1002/pssa.202000654
- Добавил в систему: Трофимова Елена Сергеевна