|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Mathematical Model in X-Ray difractometry for precise reflection Intensity determinationстатья Тезисы
- Авторы: Laktionov A.V., Pyt'ev Yu P., Chulichkov A., CHULICHKOVA N., Fetisov G.V., Aslanov L.A.
- Сборник: 12-th European Crystallographic meeting
- Том: 3
- Год издания: 1989
- Место издания: Moscow
- Добавил в систему: Пытьев Юрий Петрович