|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Influence of Si+ and Ar+ implantation on surface layer structure and mechanical characteristics of titanium alloyтезисы доклада
- Авторы: Zhikharev A.V., Bystrov S.G., Bykov P.V., Drozdov A.Yu, Bayankin V.Ya
- Сборник: Proceedings "Scannig probe microscopy - 2002"
- Тезисы
- Год издания: 2002
- Место издания: Институт физики микроструктур РАН Нижний Новгород
- Первая страница: 160
- Последняя страница: 162
- Добавил в систему: Жихарев Александр Владимирович