|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Laser Setup for Testing Silicon Microstrip Detectorsстатья Исследовательская статья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 22 июня 2022 г.
- Авторы: Kharlamov P.I., Shitenkov M.O., Dementev D.V., Leontyev V.V., Merkin M.M.
- Журнал: Instruments and Experimental Techniques
- Том: 65
- Номер: 3
- Год издания: 2022
- Издательство: Pleiades Publishing, Ltd
- Местоположение издательства: Road Town, United Kingdom
- Первая страница: 386
- Последняя страница: 392
- DOI: 10.1134/s0020441222040054
- Аннотация: A setup for conducting channel-by-channel testing and calibration of microstrip silicon detectors using collimated laser pulses is described. A feature of this setup is the use of an infrared laser diode to simulate a signal from the passage of a charged particle through the detector substance. A system of lenses makes it possible to obtain a transverse beam size of up to 5 μm, which, in combination with the use of a precision stepper motor, allows testing of each detector channel in an automatic mode. The operation of the system on modules of the BM@N silicon track system is demonstrated.
- Добавил в систему: Меркин Михаил Моисеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | PRB0021.pdf | 2,3 МБ | 11 июня 2022 [merkinm] |