|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Применение термоиндикаторов для исследования надежности и прогнозирования отказов полупроводниковых приборовстатья
- Авторы: Левченко В.А., Алтоиз Б.А., Шибаева Е.Ю.
- Сборник: Физические основы надежности и деградации полупроводниковых приборов
- Год издания: 1985
- Место издания: Кишинев Молдова
- Первая страница: 135
- Последняя страница: 136
- Добавил в систему: Левченко Владимир Анатольевич