|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
The influence of the variation of refraction indexes and layer thicknesses in thinlayer interferential structures on their optical characteristicsстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 мая 2015 г.
- Авторы: Kozar A.V., Putrina E.V.
- Журнал: Вестник Московского университета. Серия 3: Физика, астрономия
- Том: 33
- Номер: 5
- Год издания: 1992
- Издательство: Изд-во Моск. ун-та
- Местоположение издательства: М.
- Первая страница: 31
- Последняя страница: 38
- Добавил в систему: Козарь Анатолий Викторович