|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Structure of thin organic films studied with AFM & Х-ray scattering techniquesтезисы доклада
- Авторы: Levchenko V.A., Matveenko V.N.
- Сборник: Abstracts of International Conference on Solid Films and Surfaces
- Тезисы
- Год издания: 2002
- Место издания: Saint Charles Marseille-France
- Первая страница: 132
- Добавил в систему: Левченко Владимир Анатольевич