|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
The Fractal Geometry of TiAlNiAu Thin Film Metal System and Its Sheet Resistance (Lateral Size Effect)статья
- Авторы: Torkhov Nikolay Anatolyevich, Evstigneev Maxim Pavlovich, Kokolov Andrey Alexandrocivh, Babak Leonid Ivanovich
- Журнал: Symmetry
- Том: 13
- Номер: 12
- Год издания: 2021
- Издательство: MDPI
- Местоположение издательства: Basel, Switzerland
- Первая страница: 2391
- DOI: 10.3390/sym13122391
- Добавил в систему: Евстигнеев Максим Павлович