Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ЦЭМИ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементов
тезисы доклада
Авторы:
Дедкова А.А.
,
Флоринский И.В.
,
Чернышев А.К.
Сборник:
Нанофизика и наноэлектроника: Труды XXVII Международного симпозиума. 13–16 марта 2023 г
Том:
2
Тезисы
Год издания:
2023
Место издания:
ИПФ РАН Нижний Новгород
Первая страница:
851
Последняя страница:
852
Добавил в систему:
Флоринский Игорь Васильевич