|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементовтезисы доклада
- Авторы: Дедкова А.А., Флоринский И.В., Чернышев А.К.
- Сборник: Нанофизика и наноэлектроника: Труды XXVII Международного симпозиума. 13–16 марта 2023 г
- Том: 2
- Тезисы
- Год издания: 2023
- Место издания: ИПФ РАН Нижний Новгород
- Первая страница: 851
- Последняя страница: 852
- Добавил в систему: Флоринский Игорь Васильевич