|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Integration of scanning near field polarization optical microscopy and atomic force microscopy for investigation of magnetic and ferroelectric materialsстатья
- Авторы: Vysokikh Yury, Shevyakov Vasiliy, Shaposhnikov Alexandr, Prokopov Anatoliy, Shelaev Artem
- Сборник: 2017 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering (EIConRus)
- Год издания: 2017
- Издательство: Institute of Electrical and Electronics Engineers
- Местоположение издательства: Piscataway, NJ, United States
- DOI: 10.1109/eiconrus.2017.7910843
- Добавил в систему: Шелаев Артём Викторович