|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Исследование тонких пленок Ge с аморфно-нанокристаллической структурой методами EXAFS-спектроскопии и АСМстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Валеев Р.Г., Пивоварова О.И., Деев А.Н., Сурнин Д.В., Кривенцов В.В., Карбань О.В., Ветошкин В.М.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 2
- Год издания: 2010
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 60
- Последняя страница: 65
- Добавил в систему: Валеев Ришат Галеевич
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Poverhnost_2010-2_60-65.pdf | 285,9 КБ | 16 мая 2017 [RiVal] |