LDD depletion effects in thin-BOX FDSOI devices with a ground plane - статья | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

LDD depletion effects in thin-BOX FDSOI devices with a ground planeстатья

Авторы: Yan R., Duane R., Razavi P., Afzalian A., Ferain I., Lee C.W., Dehdashti-Akhavan N., Bourdelle K., Nguyen B.Y., Colinge J.P.
Сборник: 2009 IEEE International SOI Conference
Год издания: 2009
Место издания: IEEE
DOI: 10.1109/soi.2009.5318771
Добавил в систему: Бурдель Константин Константинович