|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ЦЭМИ РАН |
||
Application of reflection hologram interferometry with a high resolution to residual stresses characterisation by local material removingстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 5 июня 2017 г.
- Авторы: Pisarev Vladimir S., Balalov Vitaly V.
- Журнал: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
- Том: 6616
- Год издания: 2007
- Издательство: SPIE, the International Society for Optical Engineering
- Местоположение издательства: Bellingham, WA, United States
- Первая страница: 6162
- Последняя страница: 6162
- DOI: 10.1117/12.726241
- Добавил в систему: Никитина Янина Владимировна